-
中文图书1.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统:for digital, memory & mixed-signal VLSI circuits TN470.7/1587
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
电子工业出版社 2005
(0) 馆藏
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
电子工业出版社 2005
(0) 馆藏