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  1. 中文图书1.数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度 TN431.207/4062

    馆藏复本：2
    可借复本：1     李晓维 ... [等] 著
    科学出版社 2010
    (0) 馆藏

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