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• 200 1_ |a 半导体器件可靠性与失效分析 |A ban dao ti qi jian ke kao xing yu shi xiao fen xi |f 卢其庆, 张安康编

• 210 __ |a 南京 |c 江苏科学技术出版社 |d 1981

• 215 __ |a 278页 |d 25cm

• 320 __ |a 有书目

• 606 0_ |a 半导体器件 |A ban dao ti qi jian |x 分析 |x 可靠性

• 606 0_ |a 半导体器件 |A ban dao ti qi jian |x 失效分析

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• 701 _0 |a 卢其庆 |A lu qi qing |4 编

• 701 _0 |a 张安康 |A zhang an kang |4 编

• 801 _0 |a CN |b 上海图书馆

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