机读格式显示(MARC)

• 000 01061nam0 2200409 450

• 001 0000218900

• 005 20060410102512.0

• 010 __ |a 7-118-04206-4 |d CNY38.00

• 099 __ |a CAL 012006003346

• 100 __ |a 20060111d2006 ekmy0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 无损检测技术 |A wu sun jian ce ji shu |f 主编刘贵民

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2006

• 215 __ |a XII, 368页 |c 图 |d 23cm

• 320 __ |a 有书目

• 606 0_ |a 无损检验 |A wu sun jian yan

• 690 __ |a TG115.28 |v 4

• 701 _0 |a 刘贵民 |A liu gui min |4 主编

• 801 _0 |a CN |b NMU |c 20060111

• 801 _2 |a CN |b SCNU |c 20060410

• 905 __ |a SCNU |f TG115.28/0257

• 920 __ |a 215010 |z 1

• 920 __ |a 231400 |z 1

• 920 __ |a 211060 |z 1

• 920 __ |a 261030 |z 1

• 920 __ |a 211070 |z 1

• 920 __ |a 242170 |z 1

• 920 __ |a 221020 |z 1

• 920 __ |a 261020 |z 1

• 998 __ |a NMU

• 999 __ |M wp |m 20060410 10:25:12 |G gly |g 20060412 08:12:37

• 000 0000270479

• 991 __ |a 012006009534

• 907 __ |a SCNU |f TG115.28/0257