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• 200 1_ |a VLSI测试方法学和可测性设计 |A VLSI ce shi fang fa xue he ke ce xing she ji |f 雷绍充, 邵志标, 梁峰著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005

• 215 __ |a 286页 |c 图 |d 26cm

• 320 __ |a 有书目

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chao da gui mo ji cheng dian lu |x 测试技术

• 606 0_ |a 超大规模集成电路 |A chao da gui mo ji cheng dian lu |x 测试 |x 设计

• 690 __ |a TN47 |v 4

• 701 _0 |a 雷绍充 |A lei shao chong |4 著

• 701 _0 |a 邵志标 |A shao zhi biao |4 著

• 701 _0 |a 梁峰 |A liang feng |4 著

• 801 _0 |a CN |b XMU |c 20050303

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