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• 005 20091215160453.0

• 010 __ |a 978-7-5628-2226-4 |d CNY28.00

• 099 __ |a CAL 012008044125

• 100 __ |a 20080407d2008 ekmy0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 310000

• 105 __ |a ak a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 表面分析 (XPS和AES) 引论 |A biao mian fen xi (XPS heA ES) yin lun |d = An introduction to surface analysis by XPS and AES |f 原著 (英) John F. Watts, John Wolstenholme |f 译吴正龙 |z eng

• 210 __ |a 上海 |c 华东理工大学出版社 |d 2008

• 215 __ |a 144页 |c 图 |d 23cm

• 225 2_ |a 当代材料科学与工程译丛 |A dang dai cai liao ke xue yu gong cheng yi cong

• 314 __ |a 责任者 (Watts) 规范汉译姓: 沃茨.

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书讲述了现代电子能谱中的单色化XPS、小面积XPS(SAXPS)、成像XPS、 XPS深度剖析、场发射AES／SAM等功能的分析技术，以及在冶金、腐蚀、陶瓷、催化剂、微电子半导体材料、黏合剂、涂料聚合物材料等领域中的应用；介绍了现代电子能谱仪中的微聚焦单色器、场发射体、离子枪、电子枪、能量分析器／传输透镜、荷电补偿器、多通道探测器、平行成像系统、平行数据采集、数据处理系统等等。书中将XPS和AES技术与其他表面分析技术作了比较。书后附有参考文献、中英文电子能谱分析技术名词术语、网络资源等一些有用的信息。

• 333 __ |a 本书既可供学习电子能谱分析技术的高年级本科生和研究生用作教材, 也可供从事电子能谱专业人员以及使用电子能谱分析技术的科研技术人员阅读.

• 410 _0 |1 2001 |a 当代材料科学与工程译丛

• 500 10 |a Introduction to surface analysis by XPS and AES |m Chinese

• 606 0_ |a 表面分析 |A biao mian fen xi |x 概论

• 690 __ |a O656.9 |v 4

• 701 _1 |a 沃茨 |A wo ci |g (Watts, John F.) |4 原著

• 701 _1 |a 沃斯滕霍姆 |A wo si teng huo mu |g (Wolstenholme, John) |4 原著

• 702 _0 |a 吴正龙 |A wu zheng long |4 译

• 801 _0 |a CN |b HPUL |c 20080407

• 801 _2 |a CN |b TSU |c 20080425

• 801 _2 |a CN |b PUL |c 20080429

• 801 _2 |a CN |b SCNU |c 20091215

• 905 __ |a SCNU |f O656.9/5045

• 999 __ |M xfm |m 20091215 16:04:53 |G xfm |g 20091215 16:05:10

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