机读格式显示(MARC)
- 010 __ |a 978-7-121-21804-0 |d CNY58.00
- 099 __ |a CAL 012013157364
- 100 __ |a 20131230d2013 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 集成电路电源完整性分析与管理 |A ji cheng dian lu dian yuan wan zheng xing fen xi yu guan li |d = Power integrity analysis and management for integrated circuits |f (美) Rajendran Nair, Donald Bennett主编 |g 贺雅娟, 罗萍等译 |z eng
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2013
- 215 __ |a XIV, 229页 |c 图 |d 26cm
- 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |A guo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie
- 306 __ |a 由Pearson Education(培生教育出版集团)授权
- 314 __ |a 责任者Nair规范汉译姓: 奈尔 ; 责任者Bennett规范汉译姓: 贝内特
- 330 __ |a 本书全面论述了电源完整性问题,特别是在纳米级工艺下系统芯片的电源完整性的基本概念,揭示了其对于集成电路系统的重要意义,讨论了电源完整性问题在小工艺线宽下所遇到的种种挑战,以及为解决这些问题所引入的先进分析方法、管理技术及可用于设计前期的具有突破性的实用工具。本书涵盖了电源完整性问题从基础理论到先进技术的各个方面。
- 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列
- 500 10 |a Power integrity analysis and management for integrated circuits |m Chinese
- 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电源电路 |x 高等学校 |j 教材
- 701 _1 |a 奈尔 |A nai er |g (Nair, Rajendran) |4 主编
- 701 _1 |a 贝内特 |A bei nei te |g (Bennett, Donald) |4 主编
- 702 _0 |a 贺雅娟 |A he ya juan |4 译
- 702 _0 |a 罗萍 |A luo ping |4 译
- 801 _0 |a CN |b NMU |c 20131230
- 905 __ |a SCNU |f TN86/8070