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• 200 1_ |a 一板成功 |A yi ban cheng gong |e 高速电路研发与设计典型故障案例解析 |f 张晶威编著

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2022

• 215 __ |a 127页 |c 图 |d 24cm

• 314 __ |a 张晶威, 从事电子硬件技术工作10余年, 涉及计算机, 通信, 仪器仪表等行业, 并参与多项国家级、省级系统平台建设。

• 330 __ |a 本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍, 通过对电子工程设计中的实际故障案例分析, 帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案, 内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。

• 517 1_ |a 高速电路研发与设计典型故障案例解析 |A gao su dian lu yan fa yu she ji dian xing gu zhang an li jie xi

• 606 0_ |a 印刷电路 |A yin shua dian lu |x 电路设计

• 690 __ |a TN410.2 |v 5

• 701 _0 |a 张晶威 |A zhang jing wei |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 湖北三新 |c 20211213

• 905 __ |a SCNU |f TN410.2/1265

• 920 __ |a 242430 |z 1