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• 010 __ |a 978-7-5612-4253-7 |d CNY30.00

• 099 __ |a CAL 012015054226

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• 200 1_ |a Lattice可编程器件测试技术 |A latticeke bian cheng qi jian ce shi ji shu |f 吴丹, 石坚, 周红著

• 210 __ |a 西安 |c 西北工业大学出版社 |d 2015

• 215 __ |a 49页 |c 图 |d 23cm

• 330 __ |a 本书从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法等。

• 333 __ |a 可编程技术人员

• 606 0_ |a 可编程序逻辑器件 |A ke bian cheng xu luo ji qi jian |x 测试技术

• 690 __ |a TP332.1 |v 5

• 701 _0 |a 吴丹 |A wu dan |4 著

• 701 _0 |a 石坚 |A shi jian |4 著

• 701 _0 |a 周红 |A zhou hong |4 著

• 801 _0 |a CN |b WHUTL |c 20150508

• 905 __ |a SCNU |f TP332.1/6077

• 920 __ |a 242430 |z 1