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• 010 __ |a 978-7-121-33484-9 |d CNY98.00

• 099 __ |a CAL 012019012276

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• 200 1_ |a 电子元器件检验技术 |A dian zi yuan qi jian jian yan ji shu |i 试验部分 |f 工业和信息化部电子第五研究所组编 |g 王晓晗, 罗宏伟编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a xi, 369页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A ke kao xing ji shu cong shu

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上，结合我国电子元器件产业现状，从电子元器件检验和生产行业出发，围绕电子元器件检验主题，详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系，以及不同类别电子元器件的检验技术等。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 517 1_ |a 试验部分 |A shi yan bu fen

• 606 0_ |a 电子元器件 |A dian zi yuan qi jian |x 测试技术

• 690 __ |a TN606 |v 5

• 701 _0 |a 王晓晗 |A wang xiao han |4 编著

• 701 _0 |a 罗宏伟 |A luo hong wei |4 编著

• 712 02 |a 工业和信息化部 |A Gong Ye He Xin Xi Hua Bu |b 电子第五研究所 |4 组编

• 801 _0 |a CN |b CAU |c 20190523

• 905 __ |a SCNU |f TN606/1066

• 920 __ |a 242430 |z 1