机读格式显示(MARC)

• 000 01298nam 2200313 450

• 001 0000676090

• 005 20190327105700.0

• 010 __ |a 978-7-03-055370-6 |d CNY98.00

• 099 __ |a CAL 012018195838

• 100 __ |a 20181220d2019 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路验证 |A ji cheng dian lu yan zheng |f 沈海华, 张锋, 乐翔著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2019

• 215 __ |a 222页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 信息科学技术学术著作丛书 |A xin xi ke xue ji shu xue shu zhu zuo cong shu

• 320 __ |a 有书目 (第220-222页)

• 330 __ |a 本书从集成电路验证领域存在的问题出发，详细介绍数字电路和模拟电路验证方法，主要包括设计验证语言基础、模拟仿真验证、覆盖率检验方法、电路的形式验证、物理验证、SPICE仿真、低功耗设计和验证方法、低功耗验证技术实例、硅后验证等方面。本书紧密围绕工业界集成电路验证流程进行阐述，尽可能覆盖集成电路验证领域的现有技术内容，同时对低功耗验证、硅后验证等验证领域新的趋势和研究课题进行分析。

• 410 _0 |1 2001 |a 信息科学技术学术著作丛书

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 验证

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 沈海华 |A shen hai hua |4 著

• 701 _0 |a 张锋 |A zhang feng |4 著

• 701 _0 |a 乐翔 |A le xiang |4 著

• 801 _0 |a CN |b NMU |c 20181220

• 905 __ |a SCNU |f TN407/3432

• 920 __ |a 242430 |z 1