机读格式显示(MARC)
- 000 01363nam0 2200517 450
- 010 __ |a 7-5025-8131-6 |d CNY95.00
- 099 __ |a CAL 012006061685
- 100 __ |a 20060605d2006 ekmy0chiy50 ea
- 200 1_ |a 现代集成电路测试技术 |A xian dai ji cheng dian lu ce shi ji shu |f 《现代集成电路测试技术》编写组
- 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2006
- 215 __ |a 540页 |c 图 |d 26cm
- 517 1_ |a 集成电路测试技术 |A ji cheng dian lu ce shi ji shu
- 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 测试
- 801 _0 |a CN |b NMU |c 20060605
- 801 _2 |a CN |b SCNU |c 20060927
- 905 __ |a SCNU |f TN407/1722
- 999 __ |M wp |m 20060927 15:58:29 |G zhx |g 20061009 09:42:49
- 907 __ |a SCNU |f TN407/1722