机读格式显示(MARC)

• 000 01376nam 2200349 450

• 001 0000347970

• 005 20110220163746.0

• 010 __ |a 978-7-5124-0136-5 |d CNY35.00

• 100 __ |a 20100826d2010 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件可靠性技术教程 |A dian zi yuan qi jian ke kao xing ji shu jiao cheng |f 付桂翠 ... [等] 编著

• 210 __ |a 北京 |c 北京航空航天大学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 273页 |c 图 |d 23cm

• 225 2_ |a 普通高校“十一五”规划教材 |A pu tong gao xiao“ shi yi wu” gui hua jiao cai

• 304 __ |a 题名页题: 付桂翠, 陈颖, 张素娟, 高成等.

• 320 __ |a 有书目 (第271-273页)

• 330 __ |a 本书是高等工科院校“质量与可靠性”专业本科生教材，主要围绕元器件可靠性技术这一主题，针对元器件的固有可靠性和使用可靠性的保证技术进行了分类介绍。在固有可靠性保证中主要介绍了元器件的制造工艺、封装技术、失效机理、可靠性试验技术等。

• 410 _0 |1 2001 |a 普通高校“十一五”规划教材

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 可靠性 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN6 |v 4

• 701 _0 |a 付桂翠 |A fu gui cui |4 编著

• 701 _0 |a 陈颖 |A chen ying |4 编著

• 701 _0 |a 张素娟 |A zhang su juan |4 编著

• 801 _0 |a CN |b SCNU |c 20110220

• 905 __ |a SCNU |f TN6/2441

• 999 __ |M luol |m 20110220 16:37:46 |G luol |g 20110221 09:12:54

• 000 0000427074

• 991 __ |a 012010025777

• 907 __ |a SCNU |f TN6/2441