机读格式显示(MARC)
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- 200 1_ |a 半导体测量和仪器 |A ban dao ti ce liang he yi qi |f (美) 鲁尼安编著 |g 上海科技大学半导体材料教研室译
- 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1980
- 500 10 |a Semiconductor measurements and instrumentation |m Chinese
- 606 0_ |a 半导体材料 |A ban dao ti cai liao |x 测试
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- 701 _1 |a 鲁尼安 |A lu ni an |g (Runyan, Walter R.), |f 1925- |4 编著
- 712 02 |a 上海科学技术大学 |A shang hai ke xue ji shu da xue |b 半导体材料教研室 |B ban dao ti cai liao jiao yan shi |4 译
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