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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成测试框架 |A ji cheng ce shi kuang jia |e 用Fit进行敏捷软件测试 |d = Fit for developing software |e framework for integrated tests |f (美) Rick Mugridge, Ward Cunningham著 |g 吴兰陟译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2007

• 215 __ |a 355页 |c 图 |d 23cm

• 305 __ |a 据Pearson Education, Inc.2005年英文版译出

• 306 __ |a 由电子工业出版社和Pearson Education培生教育出版亚洲有限公司合作出版

• 314 __ |a 责任者 (Mugridge) 汉译姓取自在版编目: 穆格雷珠

• 320 __ |a 有书目 (第341-343页) 和索引

• 500 10 |a Fit for developing software : framework for integrated tests |m Chinese

• 517 1_ |a 用Fit进行敏捷软件测试 |A yong Fit jin xing min jie ruan jian ce shi

• 606 0_ |a 软件测试 |A ruan jian ce shi

• 690 __ |a TP311.5 |v 4

• 701 _1 |a 穆格雷珠 |A mu ge lei zhu |g (Mugridge, Rick) |4 著

• 701 _1 |a 坎宁安 |A kan ning an |g (Cunningham, Ward) |4 著

• 702 _0 |a 吴兰陟 |A wu lan zhi |4 译

• 801 _0 |a CN |b BUPT |c 20071108

• 801 _2 |a CN |b SCNU |c 20080226

• 905 __ |a SCNU |f TP311.5/8570

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