机读格式显示(MARC)
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- 200 1_ |a 电子元器件可靠性试验工程 |A dian zi yuan qi jian ke kao xing shi yan gong cheng |f 罗雯, 魏建中, 阳辉等编著
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2005
- 215 __ |a XIV, 350页 |c 图 |d 26cm
- 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 可靠性试验
- 701 _0 |a 罗雯 |A luo wen |4 编著
- 701 _0 |a 魏建中 |A wei jian zhong |4 编著
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