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• 000 00976nam0 2200277 450

• 001 0000508650

• 005 20140925165900.0

• 010 __ |a 978-7-308-12976-3 |d CNY29.00

• 099 __ |a CAL 012014064702

• 100 __ |a 20140516d2014 ekmy0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 330000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路芯片测试 |A ji cheng dian lu xin pian ce shi |f 主编王芳, 徐振

• 210 __ |a 杭州 |c 浙江大学出版社 |d 2014

• 215 __ |a 182页 |c 图 |d 24cm

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书主要集成电路测试从业人员所需的职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手，比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤，是微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训提供必要的知识。

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 芯片 |x 测试

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 王芳 |A wang fang |4 主编

• 701 _0 |a 徐振 |A xu zhen |4 主编

• 801 _0 |a CN |b SDUL |c 20140516

• 905 __ |a SCNU |f TN407/1044

• 920 __ |a 242430 |z 1