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• 010 __ |a 978-7-121-08293-1 |d CNY69.00

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• 101 1_ |a chi |c eng

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• 200 1_ |a 混合信号集成电路测试与测量 |A hun he xin hao ji cheng dian lu ce shi yu ce liang |d = An Introduction to mixed-signal IC test and measurement |f (美) Mark Burns, Gordon W. Roberts等著 |g 冯建华, 肖钢等译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2009

• 215 __ |a 15, 531页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |A guo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie

• 306 __ |a 本书中文简体版专有出版权由美国Oxford University Press授权电子工业出版社。

• 314 __ |a Mark Burns，是美国德州仪器半导体公司(T1)的会士，混合信号IC测试和测量领域的著名专家，Burns由Ti资助花费三年时间撰写此书，作为他的工作职责的一部分。Gordon W．Roberts，目前是McGill大学电子和计算机工程系的教授。冯建华，博士，副教授，北京大学微电子学系。多以来一直从事VLSI测试和可测试性设计研究和教学工作。他最近的研究兴趣专注于数字、存储器、模拟和混合信号电路测试方法、自动测试矢量生成、低功耗测试和可测试性设计等研究工作。肖钢，高级工程师，北京华大泰思特半导体检测枝术有限公司董事、副总经理。多年来一直从事集成电路测试研完和生产工作，领导集成电路测试公司开发了许多高端SOC测试芯片，积累了丰 富的测试经验。

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书围绕模拟与混合信号电路的测试，包括许多示例，覆盖数字电路测试，但并不是全面的，因为关于数字测试已经有了大量的资料。示例和图表由现代先进工业技术浓缩而成，全书表达生动。在考虑这种技术的应用中，介绍了大规模混合信号电路和各种电路的测试。清楚地讨论了混合信号IC测试给产品的附加利益，以及清楚地定义了测试工程师的作用。

• 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列

• 500 10 |a Introduction to mixed-signal IC test and measurement |m Chinese

• 606 0_ |a 混合信号集成电路 |A hun he xin hao ji cheng dian lu |x 测试技术 |j 教材

• 690 __ |a TN407 |v 4

• 701 _1 |a 伯恩斯 |A bo en si |g (Burns, Mark), |f 1962- |4 著

• 701 _1 |a 罗伯茨 |A luo bo ci |g (Roberts, Gordon W.), |f 1959- |4 著

• 702 _0 |a 冯建华 |A feng jian hua |4 译

• 702 _0 |a 肖钢 |A xiao gang |4 译

• 801 _0 |a CN |b 北京图书大厦有限责任公司 |c 20090413

• 801 _2 |a CN |b PUL |c 20090520

• 801 _2 |a CN |b XJT |c 20090623

• 801 _2 |a CN |b SCNU |c 20090908

• 905 __ |a SCNU |f TN407/1580

• 999 __ |M luol |m 20090908 17:22:01 |G luol |g 20090909 10:18:03

• 000 0000387795

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• 907 __ |a SCNU |f TN407/1580