机读格式显示(MARC)
- 010 __ |a 7-111-19237-0 |d CNY56.00
- 099 __ |a CAL 012006090484
- 100 __ |a 20060908d2006 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 数字系统测试与可测试设计 |A shu zi xi tong ce shi yu ke ce shi she ji |d = Digital systems testing and testable design |f (美) Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman著 |g 李华伟, 鲁巍译 |z eng
- 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2006
- 215 __ |a 449页 |c 图, 肖像 |d 26cm
- 225 2_ |a 电子工程丛书 |A dian zi gong cheng cong shu
- 305 __ |a 据AT&T 1990年英文版译出
- 306 __ |a 由约翰-威利父子公司授权机械工业出版社出版
- 314 __ |a 责任者 (Abramovici) 规范汉译姓: 阿布拉莫维奇.
- 500 10 |a Digital systems testing and testable design |m Chinese
- 606 0_ |a 数字系统 |A shu zi xi tong |x 测试技术
- 701 _1 |a 阿布拉莫维奇 |A a bu la mo wei qi |g (Abramovici, Miron) |4 著
- 701 _1 |a 布鲁尔 |A bu lu er |g (Breuer, Melvin A.) |4 著
- 701 _1 |a 弗里德曼 |A fu li de man |g (Friedman, Arthur D.) |4 著
- 702 _0 |a 李华伟 |A li hua wei |4 译
- 702 _0 |a 鲁巍 |A lu wei |4 译
- 801 _0 |a CN |b BUPT |c 20060908
- 801 _2 |a CN |b SCNU |c 20061215
- 905 __ |a SCNU |f TP271/0180
- 999 __ |M jiangy |m 20061215 16:41:21 |G jiangy |g 20061215 16:41:44
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