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- 000 01132nam0 2200265 450
- 010 __ |a 978-7-308-21953-2 |d CNY78.00
- 099 __ |a CAL 012022027401
- 100 __ |a 20220310d2022 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 光电材料表征技术 |A guang dian cai liao biao zheng ji shu |f 季振国等著
- 210 __ |a 杭州 |c 浙江大学出版社 |d 2022
- 215 __ |a 231页 |c 图 |d 23cm
- 330 __ |a 本书主要介绍光电材料涉及的表征技术, 并以大量实例辅助说明, 介绍了作者近四十年来在硅单晶、ZnO、GaN、发光材料及材料表征技术等方面取得的一系列成果。全书分为成分分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度分析、光学性能测量、电学性能测量等篇章。书中涉及很多较新的表征技术, 科学性和实用性很强。本书的特点是从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术, 重在介绍各种技术在材料领域的应用, 以用为主, 避免把重点放在仪器设备的描述上。
- 606 0_ |a 光电材料 |A guang dian cai liao |x 研究
- 701 _0 |a 季振国 |A ji zhen guo deng |4 著
- 801 _0 |a CN |b YYNU |c 20220405
- 905 __ |a SCNU |f TN204/2056