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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:87
书目信息
机读格式(MARC)
题名/责任者:
半导体器件可靠性物理
/高光渤, 李学信编著
出版发行项:
北京:科学出版社,1987
载体形态项:
601页;20cm
个人责任者:
高光渤
编著
个人责任者:
李学信
编著
学科主题:
半导体器件
-可靠性物理学
中图法分类号:
TN303
中图法分类号:
TN306
书目附注:
有书目
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