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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：59

题名/责任者:
VLSI测试方法学和可测性设计/雷绍充, 邵志标, 梁峰著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2005
ISBN及定价:
7-121-00379-1/CNY29.80
载体形态项:
286页:图;26cm
个人责任者:
雷绍充 著
个人责任者:
邵志标 著
个人责任者:
梁峰 著
学科主题:
超大规模集成电路-测试技术
学科主题:
超大规模集成电路-测试-设计
中图法分类号:
TN47
书目附注:
有书目
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置 定位
TN47/1020 1095346   密集书库三     可借 定位
TN47/1020 1095347   密集书库三     可借 定位
TN47/1020 1095348   密集书库三     可借 定位
TN47/1020 1095350   密集书库三 密三2B1     可借 定位 密集书库三
TN47/1020 1095349   理科综合阅览室     保留本 定位
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