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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：86

题名/责任者:
超大规模集成电路测试/雷绍充, 邵志标, 梁峰编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2008
ISBN及定价:
978-7-121-06307-7/CNY45.00
载体形态项:
319页:图;26cm
个人责任者:
雷绍充 编著
个人责任者:
邵志标 编著
个人责任者:
梁峰 编著
学科主题:
超大规模集成电路-电路测试
中图法分类号:
TN470.7
书目附注:
有书目
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN470.7/1020 1595429   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TN470.7/1020 1595430   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TN470.7/1020 1595428   理科综合阅览室     保留本 定位
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