| 暂存书架(0) | 登录

检索到 2 条 分类号=TN470.7 的结果    

 


所有图书 可借图书

  1. 中文图书1.超大规模集成电路测试 TN470.7/1020

    馆藏复本：3
    可借复本：2     雷绍充, 邵志标, 梁峰编著
    电子工业出版社 2008
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统:for digital, memory & mixed-signal VLSI circuits TN470.7/1587

    馆藏复本：3
    可借复本：2     (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
    电子工业出版社 2005
    (0) 馆藏

返回顶部