MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：56
- 题名/责任者:
- Lattice可编程器件测试技术/吴丹, 石坚, 周红著
- 出版发行项:
- 西安:西北工业大学出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-5612-4253-7/CNY30.00
- 载体形态项:
- 49页:图;23cm
- 个人责任者:
- 吴丹 著
- 个人责任者:
- 石坚 著
- 个人责任者:
- 周红 著
- 学科主题:
- 可编程序逻辑器件-测试技术
- 中图法分类号:
- TP332.1
- 提要文摘附注:
- 本书从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法等。
- 使用对象附注:
- 可编程技术人员
全部MARC细节信息>>
9楼北计算机应用借阅室