MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：65
- 题名/责任者:
- 数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度/李晓维 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2010
- ISBN及定价:
- 978-7-03-027894-4/CNY58.00
- 载体形态项:
- 344页:图;24cm
- 其它题名:
- 测试压缩测试功耗优化测试调度
- 个人责任者:
- 李晓维 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN431.207
- 一般附注:
- 中国科学院科学出版基金资助出版
- 书目附注:
- 有书目和索引
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