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题名/责任者:

Characterization in compound semiconductor processing = 化合物半导体加工中的表征 / [editors], Gary E. McGuire, Yale E. Strausser.

出版发行项:

哈尔滨 : Harbin Institute of Technology Press, 2014.

ISBN:

9787560342818 (pbk.)

载体形态项:

xvi, 199 p. : ill. ; 23 cm.

变异题名:

化合物半导体加工中的表征

丛编说明:

Materials characterization serise = 材料表征原版系列丛书

附加个人名称:

McGuire, G. E.

附加个人名称:

Strausser, Yale.

论题主题:

Compound semiconductors.

论题主题:

Compound semiconductors-Surfaces.

中图法分类号:

TN304.2

书目附注:

Includes bibliographical references and index.

原版附注:

Reprint. Originally published: New York : Momentum Press, 2010. 9781606500415.

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