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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：72

题名/责任者:
半导体测量和仪器/(美) 鲁尼安编著 上海科技大学半导体材料教研室译
出版发行项:
上海:上海科学技术出版社,1980
载体形态项:
322页;20cm
统一题名:
Semiconductor measurements and instrumentation
个人责任者:
鲁尼安 (Runyan, Walter R.), 1925- 编著
团体次要责任者:
上海科学技术大学 半导体材料教研室 译
学科主题:
半导体材料-测试
学科主题:
半导体器件-测试
中图法分类号:
TN307
相关题名附注:
英文题名取自书中
书目附注:
有书目
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN307/7557 0354837   密集书库一     可借 定位
TN307/7557 0354838   密集书库一     可借 定位
TN307/7557 0354913   密集书库一     可借 定位
TN307/7557 0354916   密集书库一     可借 定位
TN307/7557 0107170   理科综合阅览室     保留本 定位
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