MARC状态：已编 文献类型：中文非书资料 浏览次数：83
- 题名/责任者:
- 数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-111-18706-7
- ISBN及定价:
- 7-89492-738-4/ 附书
- 载体形态项:
- 1计算机光盘(CD-ROM);12cm
- 丛编项:
- 电子与电气工程丛书
- 个人责任者:
- 克劳奇 (Crouch, Alfred L.) 著
- 个人次要责任者:
- 马立伟 译
- 个人次要责任者:
- 何虎 译
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试-设计
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 一般附注:
- 同名图书所附光盘
- 题名责任附注:
- 正题名取自光盘表面
- 责任者附注:
- 责任者取自同名图书
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