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  1. 中文非书资料1.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 Y/TN431.2/2700

    馆藏复本：0
    可借复本：0     克劳奇
    机械工业出版社 2006
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/2700

    馆藏复本：5
    可借复本：4     Alfred L. Crouch著
    机械工业出版社 2006
    (0) 馆藏

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