MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：72
- 题名/责任者:
- 集成测试框架:用Fit进行敏捷软件测试/(美) Rick Mugridge, Ward Cunningham著 吴兰陟译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-121-04094-8/CNY45.00
- 载体形态项:
- 355页:图;23cm
- 其它题名:
- 用Fit进行敏捷软件测试
- 个人责任者:
- 穆格雷珠 (Mugridge, Rick) 著
- 个人责任者:
- 坎宁安 (Cunningham, Ward) 著
- 个人次要责任者:
- 吴兰陟 译
- 学科主题:
- 软件测试
- 中图法分类号:
- TP311.5
- 版本附注:
- 据Pearson Education, Inc.2005年英文版译出
- 出版发行附注:
- 由电子工业出版社和Pearson Education培生教育出版亚洲有限公司合作出版
- 责任者附注:
- 责任者 (Mugridge) 汉译姓取自在版编目: 穆格雷珠
- 书目附注:
- 有书目 (第341-343页) 和索引
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9楼南电信软件工程借阅室