| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:86

题名/责任者:
半导体器件可靠性物理/高光渤, 李学信编著
出版发行项:
北京:科学出版社,1987
载体形态项:
601页;20cm
个人责任者:
高光渤 编著
个人责任者:
李学信 编著
学科主题:
半导体器件-可靠性物理学
中图法分类号:
TN303
中图法分类号:
TN306
书目附注:
有书目
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN303/0093 0059318   密集书库一     可借 定位
TN303/0093 0350489   密集书库一     可借 定位
TN303/0093 0353935   密集书库一     可借 定位
TN303/0093 0107115   理科综合阅览室     保留本 定位
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名:
密码:
验证码:
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名:
手机号:
送 书 地:
收藏到: 管理书架