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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：54

题名/责任者:
半导体器件可靠性/《半导体器件可靠性》编写组编
出版发行项:
北京:国防工业出版社,1978
载体形态项:
372页;19cm
学科主题:
半导体器件-可靠性
中图法分类号:
TN303
中图法分类号:
TN306
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN303/9072 0354839   密集书库一     可借 定位
TN303/9072 0354840   密集书库一     可借 定位
TN303/9072 0354914   密集书库一     可借 定位
TN303/9072 0354915   密集书库一     可借 定位
TN303/9072 0107123   理科综合阅览室     保留本 定位
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