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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:60

题名/责任者:
数字系统测试/(美) Niraj Jha, Sandeep Gupta著 王新安, 蒋安平, 宋春殚等译
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2007
ISBN及定价:
978-7-121-04542-4/CNY89.00
载体形态项:
16, 704页:图;26cm
统一题名:
Testing of digital systems
丛编项:
国外电子与通信教材系列
个人责任者:
杰哈 (Jha, Niraj)
个人责任者:
古普塔 (Gupta, Sandeep)
个人次要责任者:
王新安
个人次要责任者:
蒋安平
个人次要责任者:
宋春殚
学科主题:
数字系统-测试
中图法分类号:
TP271
版本附注:
据Cambridge University Press 2003年英文版译出
出版发行附注:
本书中文简体字翻译版权由Cambridge University Press授权电子工业出版社出版
书目附注:
有书目
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TP271/4080 1450975   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TP271/4080 1450976   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
TP271/4080 1450977   9楼南电信软件工程借阅室     可借 定位
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