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检索到 3 条 责任者=蒋安平 的结果    

 


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  1. 中文图书1.数字系统测试 TP271/4080

    馆藏复本：3
    可借复本：3     (美) Niraj Jha, Sandeep Gupta著
    电子工业出版社 2007
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.数字集成电路分析与设计:深亚微米工艺:in deep submicron technology TN431.2/0030/ 1

    馆藏复本：5
    可借复本：4     (美) Davia A. Hodges, Horace G. Jackson, Resve A. Saleh著
    电子工业出版社 2005
    (0) 馆藏

  3. 中文图书3.超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统:for digital, memory & mixed-signal VLSI circuits TN470.7/1587

    馆藏复本：3
    可借复本：2     (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著
    电子工业出版社 2005
    (0) 馆藏

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