检索到 14 条 分类号=TN407 的结果
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中文图书1.硅通孔三维集成电路测试与可测性设计 TN407/8038
馆藏复本：2
可借复本：2 俞洋 ... [等] 著
哈尔滨工业大学出版社 2021
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中文图书2.集成电路验证 TN407/3432
馆藏复本：2
可借复本：2 沈海华, 张锋, 乐翔著
科学出版社 2019
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中文图书3.万用表速测集成电路数据大全 TN407/5010
馆藏复本：2
可借复本：1 《电子文摘报》编辑部编
电子科技大学出版社 1992
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中文图书4.怎样用万用电表检测集成电路 TN4/8010
馆藏复本：3
可借复本：2 金正等编著
人民邮电出版社 1995
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中文图书5.集成电路芯片测试 TN407/1044
馆藏复本：2
可借复本：1 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
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中文图书6.SOC测试 TN407/1020
馆藏复本：2
可借复本：1 编著雷绍充 ... [等]
西安交通大学出版社 2012
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西文图书7.Applied formal verification / TN407/P462
馆藏复本：1
可借复本：0 Douglas L. Perry, Harry D. Foster.
McGraw-Hill, c2005.
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中文期刊8.电子测试 TM93/DZ12-1
馆藏复本：58
可借复本：0 北京自动测试研究所
电子测试杂志社 1998-
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西文图书9.Microelectronics measurement technology seminar : proceedings : March 11-12, 1980, San Jose, CA / TN407-53/M626
馆藏复本：1
可借复本：0 organized and producted by Benwill Publishing Corporation.
Benwill Publishing Corporation, 1980.
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西文图书10.Computer-aided circuit analysis using SPICE / TN407/B219
馆藏复本：1
可借复本：0 Walter Banzhaf.
Prentice Hall, c1989.
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中文图书11.混合信号集成电路测试与测量 TN407/1580
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) Mark Burns, Gordon W. Roberts等著
电子工业出版社 2009
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中文图书12.常用集成电路实测数据手册 TN407-62/4483
馆藏复本：2
可借复本：0 蒋颂军, 何晓帆主编
化学工业出版社 2005
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中文图书13.SystemVerilog验证:测试平台编写指南 TP312/9120/ 2
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) 克里斯·斯皮尔著
科学出版社 2009
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中文图书14.现代集成电路测试技术 TN407/1722
馆藏复本：2
可借复本：1 《现代集成电路测试技术》编写组
化学工业出版社 2006
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