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检索到 1 条 题名=Design-for-Test for digital IC's and embedded core systems 的结果    

 


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  1. 中文图书1.数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 TN431.2/2700

    馆藏复本：5
    可借复本：4     Alfred L. Crouch著
    机械工业出版社 2006
    (0) 馆藏

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