MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：59
- 题名/责任者:
- 数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计/Alfred L. Crouch著 何虎, 马立伟等译
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2006
- ISBN及定价:
- 7-111-18706-7/CNY38.00 (含光盘)
- ISBN及定价:
- 7-89492-738-4 光盘
- 载体形态项:
- xiv, 284页:图;26cm+光盘1片
- 丛编项:
- 电子与电气工程丛书
- 个人责任者:
- 克劳奇 (Crouch, Alfred L.) 著
- 个人次要责任者:
- 何虎 译
- 个人次要责任者:
- 马立伟 译
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试-设计
- 学科主题:
- 芯片-集成电路-测试-设计
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 出版发行附注:
- 本书中文简体字版由美国Pearson education培生教育出版集团授权机械工业出版社独家出版。
- 责任者附注:
- 责任者Crouch汉译姓克劳奇
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