| 暂存书架(0) | 登录

MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：78

题名/责任者:
半导体的检测与分析/中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著
出版发行项:
北京:科学出版社,1984
载体形态项:
636页;19cm
丛编项:
实验物理学丛书
团体责任者:
中国科学院 半导体研究所 理化分析中心研究室 著
学科主题:
半导体材料-检测-分析
中图法分类号:
TN307
中图法分类号:
TN304.07
书目附注:
有书目
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN307/5062 0354843   密集书库一     可借 定位
TN307/5062 0354844   密集书库一     可借 定位
TN307/5062 0354902   密集书库一     可借 定位
TN307/5062 0354903   密集书库一     可借 定位
TN307/5062 0107166   理科综合阅览室     保留本 定位
显示全部馆藏信息
借阅趋势

同名作者的其他著作(点击查看)
用户名：
密码：
验证码：
请输入下面显示的内容
  证件号 条码号 Email
 
姓名：
手机号：
送 书 地：
收藏到： 管理书架