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MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：74

题名/责任者:
半导体器件可靠性与失效分析/卢其庆, 张安康编
出版发行项:
南京:江苏科学技术出版社,1981
载体形态项:
278页;25cm
个人责任者:
卢其庆 编
个人责任者:
张安康 编
学科主题:
半导体器件-分析-可靠性
学科主题:
半导体器件-失效分析
中图法分类号:
TN303
中图法分类号:
TN306
书目附注:
有书目
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 定位
TN303/2140 0353876   密集书库一     可借 定位
TN303/2140 0353877   密集书库一     可借 定位
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TN303/2140 0353879   密集书库一     可借 定位
TN303/2140 0107093   理科综合阅览室     保留本 定位
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